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über Nanomachanics, Inc.
über uns

 

für REM, FIB-REM, Raman,

AFM, XRD, DIC, optische Mikroskope,

optische Profilometer,  und vieles mehr

 

Der Nanomechanics, Inc. NanoFlip Nanoindenter ermöglichen in-situ Nanoindentierung* bei elektronenmikroskopischer Vergrößerung in REM und FIB-REM. Durch seine Vielseitigkeit und den 90° kippbaren Probentisch ist er aber auch bestens für andere Anwendungen in und außerhalb von Vakuumkammern einsetzbar.
 

*auch Nanoindentation genannt

 

 

NanoFlip kurzgefasst

Materialeigenschaften messen
in REM, FIB-REM, Raman, AFM, optischen Mikroskopen und mehr

Dynamische Prüfung im Vakuum
oder unter Normalbedingungen

Einfach, flexibel und vielseitig

Simultane Versuchsüberwachung, Aufnahme und Datenprotokollierung

Befestigung auf Probenbühne
 

NanoFlip Fib2Test TECHNOLOGIE

 

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Handhabung & Design

Einfache Handhabung
Die Komponenten des NanoFlip Nanoindenters sind darauf ausgelegt, dem Labortechniker oder Forscher ein Werkzeug in die Hand zu geben, mit dem er die Eigenschaften der zu prüfenden Materialien, Proben und Produkte leicht und ohne großen Aufwand charakterisieren kann.
 
Die marktführende Software des NanoFlip erleichtert die Untersuchungen und erlaubt fehlerfreie mechanische Messungen und Prüfungen mit hoher Durchsatzrate, wie sie in heutigen Labors benötigt werden.
 
Durch den Wegfall von zeitaufwändigen Einstellarbeiten oder kompliziertem Datenaustausch ist das NanoFlip System das perfekte Werkzeug für Anwender, die Mess- und Prüfergebnisse eines Produkts für ihre Kunden bereitstellen müssen.
 
Der erfahrene Wissenschaftler hingegen erzielt mit jeder Menge auswertbarer Hintergrunddaten die estmöglichen Resultate für seine Forschungsarbeit.
 

Durchdachtes Design
Der NanoFlip Nanoindenter ist dafür konzipiert, sowohl im Vakuum (REM / FIB-REM), als auch unter Normalbedingungen (z.B. in Raumluft) betrieben zu werden.
Dabei setzt Nanomechanics, Inc. auf die bewährten Basiskomponenten der InSEM™ Modelle. Durch seinen motorisierten Probenkipptisch eignet sich der NanoFlip Indenter bestens zur Untersuchung von FIB-Proben zwischen zwei Bearbeitungsschritten.
 

 

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Mess- & Prüfverfahren

Bei der Konstruktion des NanoFlip Nanoindenter hat Nanomechanics, Inc. größten Wert auf die Flexibilität des Gerätesystems gelegt. Dadurch steht dem Anwender eine große Bandbreite an Mess- und Prüfverfahren zur Verfügung. So ist eine große Bandbreite an Materialuntersuchungen, von Forschung bis Qualitätskontrolle in der Industrie, möglich.
 

Hier einige Prüfverfahren:

NM-NV-Punkt02

E-Modul und Härte
nach Oliver und Pharr*

NM-NV-Punkt02

Dynamic Mechanic Analysis
(DMA Eigenschaften)

NM-NV-Punkt02

Verlust- und Speichermodul

NM-NV-Punkt02

Dehngeschwindigkeit

NM-NV-Punkt02

Belastungsgeschwindigkeit
 

* W. C. Oliver and G. M. Pharr, "An improved technique for determining hardness and elastic modulus using load and displacement sensing indentation experiments", Journal of Materials Research, Vol. 7, No. 6, 1564-83 (1992)
 

 

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Anwendungsgebiete

Egal ob Wissenschaftler im Labor eines Industriebetriebs oder Forscher an einer universitären Einrichtung;
Nanomechanics NanoFlip Nanoindenter statten Sie mit einer großen Fülle an Mess- und Prüfmöglichkeiten aus.
 

Hier einige Prüfgebiete:

NM-NV-Punkt02

Metalle und Gefüge

NM-NV-Punkt02

Grenz- und Oberflächen

NM-NV-Punkt02

Kunststoffe / Polymere

NM-NV-Punkt02

Keramiken

NM-NV-Punkt02

Beschichtungen

NM-NV-Punkt02

Kompositwerkstoffe

NM-NV-Punkt02

MEMS und Nanostrukturen

NM-NV-Punkt02

Dünnschichten und DLCs

NM-NV-Punkt02

Biomaterialien
 

NanoFlip in TESCAN LYRA GM FIB-REM

 

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Komponenten

InQuest Kontrolleinheit
Die durch den Computer gesteuerte InQuest Kontrolleinheit (19” Rack, 2 HE) bietet sowohl quasi-statische als auch dynamische Datenerfassung in ein und derselben, kompakten Einheit. Mit seiner Datenerfassungsrate von 100 kHz und einer 20 ms Zeitkonstante setzt die Kontrolleinheit Maßstäbe.
 
InView Software
Die Nanomechanics InView Software statten den Anwender mit hervorragender Kontrolle über seine Experimente aus. Dabei laufen komplexe Kontrollaufgaben im Hintergrund ab, um auch für Einsteiger einfache Handhabung und kurze Anlaufzeiten beim Aufbau eines Versuchs zu gewährleisten.
Die Datenauswertung ist denkbar einfach, ähnlich wie das Generieren von präsentationsfertigen Ergebnissen, die problemlos von mehreren Computern innerhalb eines Netzwerks verfolgt werden können.
 
InForce 50 Aktuator
Zur Erzielung einer bestmöglichen Dynamikrate beinhaltet der bewährte InForce Aktuator einen patentierten Tauchspulen-Kraftgenerator und eine kapazitive Abstandsauflösung. Die 50 mN Maximallast ermöglichen eine große Bandbreite an Testmöglichkeiten, die weit über Druckversuche, Indentierung und Membrantests hinaus geht. Der Aktuator ist sowohl für statische als auch dynamische Versuche bestens geeignet.
 

 

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Spezifikation

Bedienteil

Abstandsmessung

kapazitiv

maximale Eindringtiefe

50 µm

Eindringgenauigkeit (elektronisch)

< 0,001 nm

typische Störung

< 0,1 nm

Lastspiel

elektromagnetisch

Maximallast

50 mN

Kraftauflösung

3 nN

Controller

Datenerfassungsrate

100 kHz

Kontrollrate CPU Regelkreis

500 Hz

dynamische Anregungsfrequenz

0,1 Hz - 1 kHz

 

NanoFlip in TESCAN MIRA XM REM

 

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Analysensysteme

Probenpräparation

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Zubehör

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